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本文主要介紹了元器件失效都有哪些，在安排測試篩選先后次序時的方案，決定元器件測試篩選先后次序的原則，篩選方案的設(shè)計原則，元器件篩選方案的制訂原則及幾種常用的篩選項目。
2022/02/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹元器件二次（補充）篩選實施應(yīng)注意的七項問題。
2020/10/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享
元器件篩選次序是有學(xué)問的，請注意！
2016/12/23 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文簡述了電子元器件篩選的必要性，分析了電子元器件的篩選項目和應(yīng)力條件的選擇原則，介紹了幾種常用的篩選項目和半導(dǎo)體的典型篩選方案設(shè)計。
2019/04/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享
電子元器件可靠性是可靠性工程的基礎(chǔ)，也是可靠性工程中最為復(fù)雜的工作。從生產(chǎn)，到二次篩選，再到裝機調(diào)試和最后投入運用這一過程當(dāng)中，電子元器件的可靠性保障都是十分重要的。本文匯總一下元器件二次篩選過程中的可靠性保障。
2021/01/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文只從降額應(yīng)用和“二次”篩選等幾個方面淺談一些體會和經(jīng)驗，希望能對從事相關(guān)工作的人員有所幫助和借鑒。
2020/03/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享
環(huán)境應(yīng)力篩選是指對產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力，來發(fā)現(xiàn)和剔除制造過程中的不良零件、元器件和工藝缺陷等早期故障的一種工序或方法。
2024/07/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
環(huán)境應(yīng)力篩選是指對產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力，來發(fā)現(xiàn)和剔除制造過程中的不良零件、元器件和工藝缺陷等早期故障的一種工序或方法。
2024/10/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件失效類型，老化篩選的作用和內(nèi)容及老化篩條件和方法。
2022/02/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
決定元器件測試篩選先后次序的原則：失效概率最大的篩選方法首先做；當(dāng)一種失效模式可以與其他失效模式產(chǎn)生關(guān)聯(lián)時，應(yīng)將此失效模式的篩選放在前面；容易觸發(fā)失效的篩選方法首先進行；便宜的先做；時間長的后做；若有耐電壓、絕緣電阻測試要求，耐壓在前、絕緣在后，功能參數(shù)最后；若有擊穿電壓和漏電流測試要求，擊穿電壓在前，漏電流在后，功能參數(shù)最后。
2021/07/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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