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  • 掃描電鏡和透射電鏡的區(qū)別

    掃描電鏡和透射電鏡的區(qū)別

    2020/07/20 更新 分類：實驗管理 分享

  • 透射電鏡樣品制備新方法

    本文旨在探索既經(jīng)濟(jì)又合理的透射電鏡樣品制備方法。

    2020/10/21 更新 分類：實驗管理 分享

  • 掃描電鏡SEM分辨率的影響因素

    影響掃描電鏡（SEM）的幾大要素有哪些呢，本文主要從分辨率、放大倍數(shù)、景深、襯度幾個方面進(jìn)行介紹。

    2019/09/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡（SEM）的基本影響要素

    　　掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

    2019/09/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 多層梯度超細(xì)晶粒鈦的變形機(jī)制

    研究人員利用透射電鏡(TEM)對多層梯度化結(jié)構(gòu)Ti材料的變形機(jī)制進(jìn)行了詳細(xì)研究，旨在揭示其在不同程度應(yīng)變下，各層和層間區(qū)域的形變機(jī)制。

    2023/11/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 3種常見的冷凍電鏡及其原理

    本篇主要對冷凍電鏡涉及的不同類型，包括冷凍透射電鏡、冷凍掃描電鏡、冷凍蝕刻電鏡進(jìn)行整理介紹。

    2024/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 基于聚焦離子雙束電鏡的透射電鏡微柱試樣制備

    研究人員對FIB-SEM 制備TEM試樣的常規(guī)方法進(jìn)行了改進(jìn)，成功制備出微柱變形試樣的TEM試樣，研究結(jié)果可為微柱及凹坑內(nèi)試樣的TEM試樣制備提供技術(shù)參考。

    2024/11/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 影響掃描電鏡（SEM）的幾大要素

    掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。 掃描電鏡的優(yōu)點 ①有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連

    2017/12/27 更新 分類：實驗管理 分享

  • 掃描電鏡SEM分辨率的影響因素

    掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡以其特有的優(yōu)點，影響掃描電鏡（SEM）的幾大要素。

    2021/04/02 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 什么類型的材料適用FIB-TEM制樣？

    雙束聚焦離子束-掃描電鏡技術(shù)（Duel Beam Focused Ion Beam,FIB）具有諸多高端優(yōu)勢和較強(qiáng)的應(yīng)用能力，是新材料開發(fā)中高分辨率表征的重要方法。常用的應(yīng)用之一是制備透射電鏡（TEM）樣品。

    2023/01/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享