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針對(duì)半導(dǎo)體器件中所有發(fā)射阿爾法粒子的材料,包括塑封料、焊球、晶圓等,均可進(jìn)行阿爾法粒子發(fā)射率測(cè)試,覆蓋各種阿爾法粒子發(fā)射率等級(jí)。本文主要介紹進(jìn)行阿爾法粒子發(fā)射率測(cè)試的樣品要求。
2020/09/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
阿爾法粒子對(duì)電路系統(tǒng)的影響可能是致命的,比如若阿爾法粒子在CPU的指令緩存中引起軟錯(cuò)誤,將導(dǎo)致CPU不能執(zhí)行預(yù)期的功能。
2019/03/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享