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  • 首個(gè)無(wú)屏蔽放療設(shè)備AP-X陀螺放射外科平臺(tái)落地

    據(jù)悉,外科手術(shù)機(jī)器人領(lǐng)域的創(chuàng)新者ZAP Surgical Systems 近日宣布,在位于法國(guó)的 Porte de Saint-Cloud(CCPSC)癌癥中心使用了,公司開(kāi)創(chuàng)性的ZAP-X陀螺放射外科平臺(tái)對(duì)患者進(jìn)行了治療。

    2023/05/28 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 強(qiáng)生推出3D術(shù)中吻合器

    2025年6月10日,Johnson & Johnson MedTech(強(qiáng)生醫(yī)療科技)宣布在美國(guó)推出 ETHICON?4000 吻合器,這是一款先進(jìn)的術(shù)中吻合設(shè)備,配備專有的3D 吻合技術(shù)(ETHICON 3D Reloads),旨在提升外科手術(shù)中的吻合線完整性,減少術(shù)中滲漏和出血等并發(fā)癥的風(fēng)險(xiǎn)。該產(chǎn)品適用于開(kāi)放手術(shù)和腹腔鏡手術(shù),并計(jì)劃未來(lái)與強(qiáng)生正在開(kāi)發(fā)的 OTTAVA 機(jī)器人手術(shù)系統(tǒng)獨(dú)家兼容。

    2025/06/13 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • MUSA:首個(gè)上市顯微外科機(jī)器人

    顯微外科是研究利用光學(xué)放大設(shè)備和顯微外科器材,進(jìn)行精細(xì)手術(shù)的學(xué)科。其中最重要的條件是利用光學(xué)放大設(shè)備手術(shù)。從廣義來(lái)說(shuō),顯微外科不是某個(gè)專科所獨(dú)有,而是外科手術(shù)學(xué)科各有專業(yè)都可采用的一門(mén)外科技術(shù)甚至可以從該專業(yè)分出專門(mén)的分支學(xué)科,如婦科顯微鏡外科、泌尿顯微鏡外科、神經(jīng)顯微鏡外科等。

    2021/04/30 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電子微組裝封裝的功能和分級(jí)

    電子微組裝封裝技術(shù),是用于電子元器件、電子微組裝組件(HIC、MCM、SiP等)內(nèi)部電互連和外部保護(hù)性封裝的重要技術(shù),它不僅關(guān)系到電子元器件、電子微組裝組件自身的性能和可靠性,還影響到應(yīng)用這些產(chǎn)品的電子設(shè)備功能和可靠性,特別是對(duì)電子設(shè)備小型化和集成化設(shè)計(jì)有著重要影響。

    2021/02/16 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 超聲刀現(xiàn)狀與前景分析

    超聲刀現(xiàn)狀與前景分析

    2022/09/30 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電解電容選型需關(guān)注6個(gè)性能指標(biāo)

    開(kāi)關(guān)電源不斷的小型化、輕量化和高效率,在電子設(shè)備中使用量越來(lái)越大,普及率越來(lái)越高。相應(yīng)的就要求電解電容器小型大容量化,耐紋波電流,高頻低阻抗化,高溫度長(zhǎng)壽命化和更適應(yīng)高密度組裝。

    2020/03/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電磁屏蔽技術(shù)——孔洞電磁泄漏(孔縫泄漏)的估算

    1. 電磁屏蔽 的目的 電磁波是電磁能量傳播的主要方式,高頻電路工作時(shí),會(huì)向外輻射電磁波,對(duì)鄰近的其它設(shè)備產(chǎn)生干擾。 另一方面,空間的各種電磁波也會(huì)感應(yīng)到電路中,對(duì)電路造

    2025/06/09 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 集成電路失效分析步驟

    本文主要介紹了集成電路失效分析的步驟。

    2020/12/04 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 超前的集成電路設(shè)計(jì)“新思路”

    本文介紹了超前的集成電路設(shè)計(jì)“新思路”

    2022/10/06 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • IEC 62304中關(guān)于軟件集成測(cè)試integration tests的要求

    本文介紹了IEC 62304中關(guān)于軟件集成測(cè)試integration tests的要求。

    2023/08/28 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享