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本文介紹的方法,將通過組件放置和布局以及半導(dǎo)體制造商在其產(chǎn)品中添加一定的功能,最終實現(xiàn)LED驅(qū)動器設(shè)計EMC性能的有效改善。
2023/06/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
近日,江蘇省藥監(jiān)局批準了南京禾瑞康醫(yī)療器械技術(shù)發(fā)展有限公司研發(fā)的“醫(yī)用內(nèi)窺鏡LED冷光源”注冊申請,以下為產(chǎn)品注冊技術(shù)審評報告主要內(nèi)容。
2025/10/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
2014年12月,針對雙端LED 燈管的安全標(biāo)準IEC 62776 (ed.1.0): 2014正式出版發(fā)行;2015年5月,相應(yīng)的歐規(guī)版本EN 62776: 2015也相繼發(fā)行,為LED燈管制造商出口歐洲提供了一個安全評估的理論依據(jù)。
2015/06/13 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準 分享
么正確檢測電子元器件就顯得尤其重要,這也是電子維修人員必須掌握的技能。我在電器維修中積累了部分常見電子元器件檢測經(jīng)驗和技巧,供大家參考。
2014/12/30 更新 分類:實驗管理 分享
用于航天工程上的元器件能否在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定的任務(wù),決定于元器件的固有可靠性和應(yīng)用可靠性
2016/08/23 更新 分類:實驗管理 分享
失效分析是對電子元器件失效機理、原因的診斷過程,是提高電子元器件可靠性的必由之路。
2017/10/12 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準 分享
簡單介紹了光電子元器件可靠性檢測中的物理特性測試、機械完整性試驗、加速老化試驗
2018/05/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
易產(chǎn)生應(yīng)用可靠性問題的器件,選用元器件要考慮的十大要素,失效模式及其分布
2020/01/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
集成電路塑封器件的早期失效一般由設(shè)計或工藝失誤所致,通過常規(guī)電性能檢測和篩選可判別這些失效的器件。
2020/02/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
結(jié)構(gòu)分析是一種通過對元器件的結(jié)構(gòu)進行一系列深入細致的分析來確定元器件的結(jié)構(gòu)是否存在潛在的失效機制的方法。
2020/06/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享