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從80年代開始，我國標準化部門參照了美國軍用標準（MIL）體系建立了GJB體系，元器件的標準有規(guī)范、標準、指導性文件等三種形式。

2020/02/28 更新 分類：法規(guī)標準 分享

結構分析是一種通過對元器件的結構進行一系列深入細致的分析來確定元器件的結構是否存在潛在的失效機制的方法。

2020/05/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。

2020/10/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享

器件選型是可靠性工程師經常要開展的工作，器件選型思考的深度和廣度，非常能考驗可靠性工程師的功力，也暴露了你的可靠性功底。作為產品可靠性工程師，你應該了解以下知識，這也是提升可靠性功力的重要方面。

2021/07/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

GJB548《微電子器件試驗方案和程序》規(guī)定了軍用微電子器件的氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗、電學試驗和檢驗程序。

2023/07/04 更新 分類：法規(guī)標準 分享

GJB4027《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》本標準規(guī)定了軍用電子元器件破壞性物理分析(DPA)的通用方法。

2023/07/17 更新 分類：法規(guī)標準 分享

對于光電器件本站已經介紹的很多了，但發(fā)現(xiàn)詢問者依然很多，考慮原因主要是搜索能力差，不會舉一反三。這次將我們在醫(yī)療器械中常見的光電器件綜述一下，希望對大家有所幫助。

2023/11/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享

《半導體器件的失效機理和模型》將針對硅基半導體器件常見的失效機理展開研究。本文對FEoL階段的負偏壓溫度不穩(wěn)定性（NBTI）失效模式進行研究

2024/10/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了光耦合器是選擇車規(guī)級光電器件AEC-Q102認證還是功率器件AEC-Q101認證。

2025/01/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文將系統(tǒng)性地探討電阻、電容、電感、半導體器件、集成電路及機電元件等常用電子元器件的典型故障模式、內在機理及外部影響因素。

2025/11/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享