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本文主要介紹了白光干涉測量法在波紋度指標檢測中的應用，波紋度指標的檢測方法主要包括接觸式及非接觸式測量。接觸式測量通過探針在鋼板上接觸，記錄鋼板的表面信息，經(jīng)過數(shù)據(jù)處理得到波紋度；非接觸式測量通過光的干涉原理獲得鋼板表面信息，并進行數(shù)據(jù)處理得到波紋度。
2022/04/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享
評估電源時最常用的兩個規(guī)格是紋波和瞬態(tài)。它們看起來像是簡單的測量指標，但是為了獲得正確的數(shù)據(jù)，應該記住兩個重要方面。第一個方面是使用示波器探針時的測量技術(shù)，第二個方面是指定數(shù)據(jù)時需要遵守的特定條件。
2023/02/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享
原子熒光法作為新型監(jiān)測分析技術(shù)，以其據(jù)對的優(yōu)勢提高了對無機元素的監(jiān)測，同時選擇最佳的工作參數(shù)能夠為原子熒光測定精確性提供有利依據(jù)，主要涉及到原子熒光測定中空心陰極燈、觀測高度、載氣流量、屏蔽氣的具體流量、選擇其他條件以及最佳的氫化反應條件的參數(shù)選擇。
2016/07/24 更新 分類：實驗管理 分享
X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。
2017/03/22 更新 分類：實驗管理 分享
X熒光光譜儀制樣方法（固體樣品的制備）
2017/03/22 更新 分類：實驗管理 分享
原子熒光光譜分析法具有很高的靈敏度，校正曲線的線性范圍寬，能進行多元素同時測定。
2018/11/07 更新 分類：實驗管理 分享
原子熒光空白偏高和哪些因素有關(guān)系？
2019/11/18 更新 分類：實驗管理 分享
本文主要介紹拉曼、熒光、顆粒表征等多種熱門光學光譜技術(shù)問題答疑。
2020/10/14 更新 分類：實驗管理 分享
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、Ｘ熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質(zhì)譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質(zhì)譜法（ICP-MS）分析，但對國內(nèi)用戶而言，儀器成本高。陽極溶出法，檢測速度快，數(shù)值準確，可用于現(xiàn)場等環(huán)境應急檢測。Ｘ熒光光譜（XRF）分析，優(yōu)點是
2022/06/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了便攜式能量色散X射線熒光光譜儀測定樣品的制備流程。
2024/10/09 更新 分類：實驗管理 分享
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