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本文介紹了晶圓接受測試WAT技術(shù)與測試方法。
2025/01/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
從WAT的工藝監(jiān)控,到CP的裸片篩選,再到FT的全面考核,這三道測試關(guān)卡構(gòu)成了芯片質(zhì)量的"三重防護(hù)網(wǎng)"。
2025/11/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
巴爾的摩2014年6月16日沃特世公司(紐約證券交易所代碼:WAT)今天在美國質(zhì)譜協(xié)會(huì)(ASMS)第62屆年會(huì)上推出了Waters Xevo G2-XS 質(zhì)譜儀,這是一款新型高性能臺(tái)式四極桿飛行時(shí)間(QTof)質(zhì)譜儀。
2015/08/31 更新 分類:其他 分享