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車(chē)載視頻行駛記錄系統(tǒng)中移動(dòng)存儲(chǔ)器的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：移動(dòng)存儲(chǔ)器 檢測(cè)樣品：車(chē)載視頻行駛記錄系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)：車(chē)載視頻行駛記錄系統(tǒng) GB/T38892-2020

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：國(guó)家新能源汽車(chē)檢測(cè)中心 更多相關(guān)信息>>

車(chē)載視頻行駛記錄系統(tǒng)中移動(dòng)存儲(chǔ)器的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：移動(dòng)存儲(chǔ)器 檢測(cè)樣品：車(chē)載視頻行駛記錄系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)：車(chē)載視頻行駛記錄系統(tǒng) GB/T38892-2020

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：國(guó)家汽車(chē)零部件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心 更多相關(guān)信息>>

智能電能表軟件中非易失性存儲(chǔ)器寫(xiě)入壽命的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：非易失性存儲(chǔ)器寫(xiě)入壽命 檢測(cè)樣品：智能電能表軟件 標(biāo)準(zhǔn)：Q/GDW11680-2017 智能電能表軟件可靠性技術(shù)規(guī)范

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓VOH 檢測(cè)樣品：存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：采樣-保持失調(diào)電壓VOS 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓VOH 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓VOL 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

湖北航天技術(shù)研究院計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)參數(shù) 檢測(cè)樣品：MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

檢測(cè)項(xiàng)：動(dòng)態(tài)參數(shù) 檢測(cè)樣品：MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)參數(shù) 檢測(cè)樣品：雙極性隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路雙極型隨機(jī)存儲(chǔ)器器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10740-1996

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省孝感市 更多相關(guān)信息>>

陜西千山航空電子有限責(zé)任公司檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測(cè)試 檢測(cè)樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊(cè)要求

檢測(cè)項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測(cè)試 檢測(cè)樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊(cè)要求

檢測(cè)項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測(cè)試 檢測(cè)樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊(cè)要求

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

北京尊冠科技有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：功能測(cè)試棋盤(pán)格 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

檢測(cè)項(xiàng)：功能測(cè)試步進(jìn) 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

檢測(cè)項(xiàng)：導(dǎo)通電阻路差ΔRON 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

湖北省計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

檢測(cè)項(xiàng)：存儲(chǔ)器 檢測(cè)樣品：集成電路（IC）卡讀寫(xiě)機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路（IC）卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范 GB/T 18239-2000

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

北京振興計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：交流參數(shù) 檢測(cè)樣品：數(shù)字電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路TTL測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路雙極性隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導(dǎo)體集成電路

檢測(cè)項(xiàng)：直流參數(shù) 檢測(cè)樣品：數(shù)字電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路TTL測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路雙極性隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導(dǎo)體集成電路

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>