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淄博市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗所

檢測項：VOL 檢測樣品：耐火材料 標(biāo)準(zhǔn)：含碳、碳化硅、氮化物耐火材料化學(xué)分析方法 GB/T16555-2008

機構(gòu)所在地：山東省淄博市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計量測試技術(shù)研究所

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：運算放大器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)休集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

機構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

北京振興計量測試研究所

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：DC/DC電源模塊 標(biāo)準(zhǔn)：混合集成電路DC/DC變換器測試方法 SJ 20646-1997

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14115-1993 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

中國船舶重工集團公司第七二二研究所計量檢測中心

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：電壓調(diào)整器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4377-1996《半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理》

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10735-1996《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10735-1996《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》

機構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

北京青云航空儀表有限公司理化計量中心

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成 電路 (TTL) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

北京尊冠科技有限公司

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6798－1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理》

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團公司第二十七研究所計量檢測中心

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體 集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

機構(gòu)所在地：河南省鄭州市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心

檢測項：輸出低電平VOL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路 （數(shù)字集成電路） 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第Ⅳ篇

檢測項：輸出低電平VOL 檢測樣品：微波組件 標(biāo)準(zhǔn)：1、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 2、GJB 899A-2009 可靠性鑒定和驗收試驗 3、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法

檢測項：低電平輸出電壓Vol 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路 （運算放大器、電壓比較器） 標(biāo)準(zhǔn)：1、GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 2、GB/T 16464-1996 半導(dǎo)體器件 集成電路 第1部分 總則

機構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

可口可樂飲料（上海）有限公司亞太技術(shù)中心

檢測項：艾氏劑 檢測樣品：果汁和濃縮物 標(biāo)準(zhǔn)：丙酮萃取法分析果汁中的農(nóng)藥殘留 TP08-WI-07.81 (FDA Pesticide Analytical Manual Vol. I, SECTION 302, METHOD I FOR NONFATTY FOODS)

檢測項：α-六六六 檢測樣品：果汁和濃縮物 標(biāo)準(zhǔn)：丙酮萃取法分析果汁中的農(nóng)藥殘留 TP08-WI-07.81 (FDA Pesticide Analytical Manual Vol. I, SECTION 302, METHOD I FOR NONFATTY FOODS)

檢測項：β-六六六 檢測樣品：果汁和濃縮物 標(biāo)準(zhǔn)：丙酮萃取法分析果汁中的農(nóng)藥殘留 TP08-WI-07.81 (FDA Pesticide Analytical Manual Vol. I, SECTION 302, METHOD I FOR NONFATTY FOODS)

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>