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陜西省電子技術(shù)研究所電子元器件檢測(cè)篩選中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓（VOL） 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路數(shù)字集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所電子器件質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓VOL 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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機(jī)構(gòu)所在地：遼寧省沈陽市 更多相關(guān)信息>>

湖南航天管理局計(jì)量檢測(cè)中心

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機(jī)構(gòu)所在地：湖南省長沙市 更多相關(guān)信息>>

北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓Vol 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平VOL 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（數(shù)字集成電路） 標(biāo)準(zhǔn)：1.SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半導(dǎo)體器件 集成電路 第

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

陜西千山航空電子有限責(zé)任公司檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測(cè)試 檢測(cè)樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊(cè)要求

檢測(cè)項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測(cè)試 檢測(cè)樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲(chǔ)器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊(cè)要求

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

中國航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓VOL 檢測(cè)樣品：模擬集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6798-1996《半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》 GB3442-1986 《半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國空空導(dǎo)彈研究院元器件檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓VOL 檢測(cè)樣品：模擬/混合集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6798-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 GB/T 17940-2000半導(dǎo)體器件集成電路 第3部分 模擬集成電路 GB/T4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14028-199

機(jī)構(gòu)所在地：河南省洛陽市 更多相關(guān)信息>>