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蘇州世標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：纖維含量定量分析 檢測(cè)樣品：紡織品 標(biāo)準(zhǔn)：紡織品 定量化學(xué)分析方法第一部分1:測(cè)試的基本原則 ISO 1833-1：2006

檢測(cè)項(xiàng)：異味 檢測(cè)樣品：紡織品 標(biāo)準(zhǔn)：國(guó)家紡織產(chǎn)品基本安全技術(shù)規(guī)范 GB 18401-2010/6.7

檢測(cè)項(xiàng)：全部參數(shù) 檢測(cè)樣品：紡織品安全規(guī)范 標(biāo)準(zhǔn)：國(guó)家紡織產(chǎn)品基本安全技術(shù)規(guī)范 GB 18401-2010

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所電子器件質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓VOL 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入高電平電流IIH 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入低電平電流IIL 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：遼寧省沈陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

深圳市華測(cè)檢測(cè)技術(shù)股份有限公司上海分公司

檢測(cè)項(xiàng)：纖維成分（定量分析－機(jī)械拆分和化學(xué)分析） 檢測(cè)樣品：紡織品及成衣 標(biāo)準(zhǔn)：紡織品-定量化學(xué)分析方法1:測(cè)試的基本原理 ISO 1833-1 CORR 1-2009

檢測(cè)項(xiàng)：全部參數(shù) 檢測(cè)樣品：綠茶 標(biāo)準(zhǔn)：《綠茶 笫1部分:基本要求》GB/T 14456.1-2008

檢測(cè)項(xiàng)：安全性能 檢測(cè)樣品：紡織品及成衣 標(biāo)準(zhǔn)：國(guó)家紡織產(chǎn)品基本安全技術(shù)規(guī)范 GB 18401-2010

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

宜家分撥（上海）有限公司宜家中國(guó)測(cè)試及培訓(xùn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：纖維成分:定量分析-機(jī)械拆分和化學(xué)分析 檢測(cè)樣品：紡織品 及成衣 標(biāo)準(zhǔn)：ISO 1833-1:2006+C1:2009 紡織品-定量化學(xué)分析方法1： 測(cè)試的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：纖維成分:定量分析-機(jī)械拆分和化學(xué)分析 檢測(cè)樣品：紡織品 及成衣 標(biāo)準(zhǔn)：紡織品-定量化學(xué)分析方法1： 測(cè)試的基本原理 ISO 1833-1:2006+C1:2009

檢測(cè)項(xiàng)：燃燒性能 檢測(cè)樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：玩具安全-燃燒性能 EN 71-2:2011

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

無(wú)錫天祥質(zhì)量技術(shù)服務(wù)有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：纖維成分 （定量分析－機(jī)械拆分和化學(xué)分析） 檢測(cè)樣品：紡織品及成衣 標(biāo)準(zhǔn)：ISO 1833-1-2006 紡織品-定量化學(xué)分析方法1 測(cè)試的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：全部參數(shù) 檢測(cè)樣品：紡織產(chǎn)品安全 標(biāo)準(zhǔn)：GB 18401-2010 國(guó)家紡織產(chǎn)品基本安全技術(shù)規(guī)范

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省無(wú)錫市 更多相關(guān)信息>>

萊茵技術(shù)監(jiān)護(hù)（深圳）有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：指數(shù)模型的基本原理和推導(dǎo) 檢測(cè)樣品：超聲醫(yī)療診斷和監(jiān)測(cè)設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-37部分：超聲醫(yī)療診斷和監(jiān)測(cè)設(shè)備基本安全和基本性能專用要求

檢測(cè)項(xiàng)：通用指導(dǎo)和基本原則 檢測(cè)樣品：醫(yī)用電氣設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：醫(yī)用電氣設(shè)備 第一部分：安全通用要求和基本性能 IEC 60601-1:2005+A1:2012 EN 60601-1:2006

檢測(cè)項(xiàng)：基本原理 檢測(cè)樣品：醫(yī)用電氣設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：醫(yī)用電氣設(shè)備 第1-4部分：可編程醫(yī)用電氣系統(tǒng)的安全通用要求 IEC 60601-1-4:1996+A1:1999

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電流IIO 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益AVD 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電壓 檢測(cè)樣品：運(yùn)算 (電壓)放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算(電壓)放大器 測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11條

檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電流 檢測(cè)樣品：時(shí)基 電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 時(shí)基電路 測(cè)試方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8條

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益 檢測(cè)樣品：時(shí)基 電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 時(shí)基電路 測(cè)試方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8條

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出漏電流Iol 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1、GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 2、GB/T 4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：正電源電流Is+ 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1、GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 2、GB/T 4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：負(fù)電源電流Is- 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（穩(wěn)壓器） 標(biāo)準(zhǔn)：1、GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 2、GB/T 4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

西安通和電信設(shè)備檢測(cè)有限公司無(wú)線通信實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：網(wǎng)管基本原則 檢測(cè)樣品：LMDS 本地多點(diǎn)分配系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)：接入網(wǎng)技術(shù)要求 -26GHz LMDS本地多點(diǎn)分配系統(tǒng) YD/T 1186-2002 接入網(wǎng)測(cè)試方法 -26GHz LMDS本地多點(diǎn)分配系統(tǒng) YD/T 1301-2004

檢測(cè)項(xiàng)：基本功能 檢測(cè)樣品：CDMA移動(dòng)通信基站子系統(tǒng) (設(shè)備) 標(biāo)準(zhǔn)：800MHz CDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信系統(tǒng)設(shè)備總技術(shù)規(guī)范：基站部分 YD/T 1029-1999

檢測(cè)項(xiàng)：基本功能 檢測(cè)樣品：LMDS 本地多點(diǎn)分配系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)：接入網(wǎng)技術(shù)要求 -26GHz LMDS本地多點(diǎn)分配系統(tǒng) YD/T 1186-2002 接入網(wǎng)測(cè)試方法 -26GHz LMDS本地多點(diǎn)分配系統(tǒng) YD/T 1301-2004

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>