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上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所質(zhì)檢中心

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T14030-1992

檢測(cè)項(xiàng)：最大差模輸入電壓檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T14030-1992

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T14030-1992

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中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第七二二研究所計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：穩(wěn)定性烘焙檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6798-1996《半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：溫度循環(huán) 檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6798-1996《半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電壓VIO 檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6798-1996《半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》

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西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入電流檢測(cè)樣品：CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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北京青云航空儀表有限公司理化計(jì)量中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸入低電平電壓VIL 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓VOH 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

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中國(guó)航空無(wú)線(xiàn)電電子研究所元器件檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：零點(diǎn)誤差檢測(cè)樣品：光電耦合器標(biāo)準(zhǔn)：SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：失調(diào)誤差檢測(cè)樣品：光電耦合器標(biāo)準(zhǔn)：SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：零點(diǎn)誤差檢測(cè)樣品：光電耦合器標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10818-1996 半導(dǎo)體集成非線(xiàn)性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理

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上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)功耗檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比檢測(cè)樣品：時(shí)基電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

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云南昆船電子設(shè)備有限公司藍(lán)海綜合實(shí)驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電流檢測(cè)樣品：TTL電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：輸入偏置電流檢測(cè)樣品：TTL電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益檢測(cè)樣品：TTL電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

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檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電流檢測(cè)樣品：電壓比較器標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10805-2000半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理

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西南計(jì)算機(jī)有限責(zé)任公司檢測(cè)計(jì)量與軟件測(cè)評(píng)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸入鉗位電壓檢測(cè)樣品：TTL集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10735-1996

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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