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半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路中靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on)檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路

  • 檢測項(xiàng)目：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on)

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測試方法的基本原理

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標(biāo)簽： 靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on) 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路

半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路中靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on)更多檢測機(jī)構(gòu)

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