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貴州航天計量測試技術(shù)研究所

檢測項：增益誤差EG 檢測樣品：時基電路 標準：《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半導體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

檢測項：精度EA 檢測樣品：時基電路 標準：《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半導體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

檢測項：線性誤差EL 檢測樣品：時基電路 標準：《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半導體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

機構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關信息>>

湖北航天技術(shù)研究院計量測試技術(shù)研究所

檢測項：靜態(tài)參數(shù) 檢測樣品：采樣/保持放大器 標準：半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

檢測項：動態(tài)參數(shù) 檢測樣品：采樣/保持放大器 標準：半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

檢測項：部分參數(shù) 檢測樣品：D/A轉(zhuǎn)換器 標準：半導體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ/T 10818-1996 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

機構(gòu)所在地：湖北省孝感市 更多相關信息>>

中國船舶重工集團第七0九研究所微電子測試校準實驗室

檢測項：電壓量（模擬） 檢測樣品：集成電路 標準：半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理SJ/T10738-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理GB/T4377-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理SJ/T10805-2000 半導體集成電路模擬開關測試方法的基

檢測項：電流量（模擬） 檢測樣品：集成電路 標準：半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理SJ/T10738-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理GB/T4377-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理SJ/T10805-2000 半導體集成電路模擬開關測試方法的基

檢測項：頻率 檢測樣品：集成電路 標準：半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理SJ/T10738-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理GB/T4377-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理SJ/T10805-2000 半導體集成電路模擬開關測試方法的基

機構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

西安東風儀表廠可靠性試驗檢測中心

檢測項：老煉試驗 檢測樣品：半導體集成電路模擬開關 標準：半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理　GB/T14028-92 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項：粒子碰撞噪聲檢測試驗 檢測樣品：半導體集成電路模擬開關 標準：半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理　GB/T14028-92 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項：密封 檢測樣品：半導體集成電路模擬開關 標準：半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理　GB/T14028-92 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

機構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關信息>>

中國空空導彈研究院元器件檢測中心

檢測項：滯后電壓ΔVT 檢測樣品：模擬/混合集成電路 標準：GB/T 6798-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 17940-2000半導體器件集成電路 第3部分 模擬集成電路 GB/T4377-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T 14028-199

檢測項：輸出高電平電壓VOH 檢測樣品：模擬/混合集成電路 標準：GB/T 6798-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 17940-2000半導體器件集成電路 第3部分 模擬集成電路 GB/T4377-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T 14028-199

檢測項：輸出低電平電壓VOL 檢測樣品：模擬/混合集成電路 標準：GB/T 6798-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 17940-2000半導體器件集成電路 第3部分 模擬集成電路 GB/T4377-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T 14028-199

機構(gòu)所在地：河南省洛陽市 更多相關信息>>

中達電子（江蘇）有限公司分析實驗室

檢測項：玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 檢測樣品：塑料 標準：GB/T 19466.1-2004(通則) GB/T 19466.2-2004(玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測定)

檢測項：熔融和結(jié)晶溫度及熱焓 檢測樣品：電子電氣設備 標準：GB/T 19466.1-2004(通則) GB/T 19466.3-2004(熔融和結(jié)晶溫度以及熱焓測定)

機構(gòu)所在地： 更多相關信息>>

成都凱天電子股份有限公司實驗中心

檢測項：輸入偏置電流 檢測樣品：電壓比較器 標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理GB/T6798-1996

檢測項：輸入失調(diào)電流 檢測樣品：電壓比較器 標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理GB/T6798-1996

檢測項：開環(huán)電壓增益 檢測樣品：電壓比較器 標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理GB/T6798-1996

機構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關信息>>

武漢中原電子集團有限公司計量檢測中心

檢測項：輸入失調(diào)電流 檢測樣品：運算放大器 標準：半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996

檢測項：輸入偏置電流 檢測樣品：運算放大器 標準：半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996

檢測項：開環(huán)電壓增益 檢測樣品：運算放大器 標準：半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996

機構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

杭州金輝鋼結(jié)構(gòu)檢測工程有限公司

檢測項：超 聲 波 檢 測 檢測樣品：金屬材料及鋼結(jié)構(gòu)焊接產(chǎn)品 標準：金屬材料的χ、γ射線照相檢驗法—基本原則ISO 5579--1998

檢測項：滲透檢測 檢測樣品：金屬材料及鋼結(jié)構(gòu)焊接產(chǎn)品 標準：滲透探傷法第1部分—基本規(guī)則 BS EN 571-1：1997

機構(gòu)所在地：浙江省杭州市 更多相關信息>>

中國船舶重工集團公司第723研究所電工電子設備環(huán)境與可靠性試驗檢測中心

檢測項：輸出漏電流 檢測樣品：時基電路 標準：《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》GB/T 14030-1992

檢測項：靜態(tài)功耗 檢測樣品：時基電路 標準：《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》GB/T 14030-1992

檢測項：觸發(fā)電流 檢測樣品：時基電路 標準：《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》GB/T 14030-1992

機構(gòu)所在地：江蘇省揚州市 更多相關信息>>