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半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路中漏-源擊穿電壓V(BR)DSS檢測(cè)

• 樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路

• 檢測(cè)項(xiàng)目：漏-源擊穿電壓V(BR)DSS

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理

• 所屬行業(yè)分類(lèi)：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

• 標(biāo)簽： 漏-源擊穿電壓V(BR)DSS 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路