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中興通訊股份有限公司材料實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：振蕩器 標(biāo)準(zhǔn)：有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩 第1部分：總規(guī)范 IEC 60679-1-2007

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：諧振器 標(biāo)準(zhǔn)：石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范 第1部分-總規(guī)范 GB/T 12273-1996

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：電感器 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

國(guó)營(yíng)長(zhǎng)風(fēng)機(jī)器廠環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)計(jì)量中心

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：集成電路 篩選 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005

機(jī)構(gòu)所在地：甘肅省蘭州市 更多相關(guān)信息>>

上海無線電設(shè)備研究所環(huán)境與檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：電子、 電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》 GJB 360B-2009

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：外部檢查 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB4027A-2006《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》

檢測(cè)項(xiàng)：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB4027A-2006《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》

檢測(cè)項(xiàng)：外部檢查 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

亞旭電子科技（江蘇）有限公司零件工程實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：塑封微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目1103 GJB 4027A-2006

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：塑封微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目1103 GJB 4027A-2006

檢測(cè)項(xiàng)：內(nèi)部目檢 檢測(cè)樣品：電子元器件/電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目1103 GJB 4027A-2006

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

廣東省電子電器產(chǎn)品監(jiān)督檢驗(yàn)所

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：發(fā)光二極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：整流二極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：雙極型晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所檢測(cè)/試驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：閘流晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/Z9014.3-1987半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第６部分：閘流晶體管

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省南京市 更多相關(guān)信息>>

北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：軍用及民用標(biāo)準(zhǔn)件 標(biāo)準(zhǔn)：《600℃高溫高壓管路快卸卡箍等卡箍系列標(biāo)準(zhǔn)》 GJB3821-1990

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：電子及電氣元器件篩選 標(biāo)準(zhǔn)：1、《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》GJB360B-2009 2、《元器件篩選技術(shù)條件》Q/QJB 103.1A~103.15A-2010 3、《有質(zhì)量等級(jí)的薄膜固定電阻器總規(guī)范》GJB244A-2001 4、《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》GJB1432B-20

檢測(cè)項(xiàng)：目檢 檢測(cè)樣品：印制板 標(biāo)準(zhǔn)：《汽車GPS導(dǎo)航系統(tǒng)通用規(guī)范》GB/T19392-2013

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢/外觀和機(jī)械檢驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子元器件（物理試驗(yàn)） 標(biāo)準(zhǔn)：1.GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法，方法2068，方法2071

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波組件通用規(guī)范 5、SJ 20527

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4

檢測(cè)項(xiàng)：外部目檢 檢測(cè)樣品：軍用電子元器件破壞性物理分析 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 4、GJB 360A-1996 電子及

機(jī)構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>