您當(dāng)前的位置:首頁 > 微分增益/相位
檢測項(xiàng):增益 檢測樣品:天線 標(biāo)準(zhǔn):GJB 4274-2001 對(duì)數(shù)周期天線通用規(guī)范
檢測項(xiàng):增益 檢測樣品:天線 標(biāo)準(zhǔn):GJB 4274-2001 對(duì)數(shù)周期天線通用規(guī)范
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測項(xiàng):傳聲增益 檢測樣品:建筑與建筑群的綜合布線 標(biāo)準(zhǔn):GB/T50312-2007 綜合布線系統(tǒng)工程驗(yàn)收規(guī)范
檢測項(xiàng):傳聲增益 檢測樣品:建筑與建筑群的綜合布線 標(biāo)準(zhǔn):GB/T50312-2007 綜合布線系統(tǒng)工程驗(yàn)收規(guī)范
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市
檢測項(xiàng):開環(huán)電壓增益 檢測樣品:時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測試方法的基本原理 GB/T 14030-1992
檢測項(xiàng):開環(huán)電壓增益 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):微電路試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005
機(jī)構(gòu)所在地:四川省成都市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:遼寧省沈陽市
檢測項(xiàng):開環(huán)電壓增益 檢測樣品:TTL電路 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理
機(jī)構(gòu)所在地:云南省昆明市
檢測項(xiàng):部分項(xiàng)目 檢測樣品:音頻設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn):IEEE Std 149-1979 (R2008)天線測試標(biāo)準(zhǔn)
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測項(xiàng):天線增益 檢測樣品:移動(dòng)通信天線 標(biāo)準(zhǔn):移動(dòng)通信天線通用技術(shù)規(guī)范 GB/T 9410-2008
檢測項(xiàng):天線增益 檢測樣品:天線 標(biāo)準(zhǔn):IEEE天線測試標(biāo)準(zhǔn)流程 ANSI/IEEE Std 149-1979
檢測項(xiàng):天線增益 檢測樣品:天線 標(biāo)準(zhǔn):IEEE天線測試標(biāo)準(zhǔn)流程 ANSI/IEEE Std 149-1979
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省杭州市