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檢測項:開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品:模擬開關(guān) 標準:《半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理》GB/T 14028-1992
機構(gòu)所在地:貴州省貴陽市
檢測項:DAC微分線性誤差 檢測樣品:集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標準:集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006
檢測項:DAC微分線性誤差溫度系數(shù) 檢測樣品:集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標準:集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006
檢測項:ADC微分線性誤差 檢測樣品:集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標準:集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006
機構(gòu)所在地:重慶市
檢測項:部分參數(shù) 檢測樣品:運算(電壓)放大器 標準:半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
機構(gòu)所在地:湖北省孝感市
檢測項:紅外顯微分析 檢測樣品:電子電工產(chǎn)品 標準:測試方法手冊 IPC-TM-650 2.3.39-2004(C版本)
檢測項:紅外顯微分析 檢測樣品:電子電工產(chǎn)品 標準:測試方法手冊 IPC-TM-650 2.3.39-2004(C版本)
機構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測項:定性分析 檢測樣品:金屬與合金 標準:波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則 GB/T 20725-2006
檢測項:定性分析 檢測樣品:硅酸鹽礦物 標準:波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則 GB/T 20725-2006
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:工作電壓范圍內(nèi)的微分電阻(rZ) 檢測樣品:雙極型晶 體管 標準:GB/T 4587-94 《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:檢查電纜線路的相位 檢測樣品:接地裝置 標準:《接地裝置特性參數(shù)測量導(dǎo)則》DL/T 475-2006
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:自動增益控制特性 檢測樣品:收錄音機 標準:磁帶錄音機基本參數(shù) 和技術(shù)條件 GB/T 2019-87 錄音廣播接收機基本參數(shù) GB/T 9374-88
機構(gòu)所在地:福建省福州市