官方微信
您當前的位置:首頁 > 微分增益失真(DG)
檢測項:微分電阻rZ 檢測樣品:光電耦合器 標準:GB/T15651-1995 半導體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件
檢測項:開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品:半導體集成電路TTL電路 標準:SJ/T10735-1996 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理
機構所在地:湖南省長沙市 更多相關信息>>
檢測項:前置予處理機增益;多路前置予處理器增益一致性 檢測樣品:聲納設備 標準:聲納通用規(guī)范 GJB22A-1999
檢測項:不失真音頻 輸出功率 檢測樣品:聲納設備 標準:聲納通用規(guī)范 GJB22A-2003
檢測項:時變增益(TVG)控制范圍 檢測樣品:聲納設備 標準:聲納通用規(guī)范 GJB22A-1999
機構所在地:浙江省杭州市 更多相關信息>>
檢測項:增益(包括移頻增益) 檢測樣品:直放站 標準:900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動通信直放機技術要求和測試方法 YD/T 1337-2005
檢測項:帶外增益 檢測樣品:直放站 標準:800MHz/2GHz CDMA數(shù)字蜂窩移動通信網 模擬直放站技術要求和測試方法 YD/T 1596-2011
檢測項:增益 檢測樣品:直放站 標準:800MHz/2GHz CDMA數(shù)字蜂窩移動通信網 模擬直放站技術要求和測試方法 YD/T 1596-2011
機構所在地:上海市 更多相關信息>>
檢測項:系統(tǒng)總諧波失真 檢測樣品: 標準:
檢測項:傳聲增益 檢測樣品: 標準:
檢測項:整機諧波失真 檢測樣品:收錄音機 標準:磁帶錄音機基本參數(shù) 和技術條件 GB/T 2019-87 錄音廣播接收機基本參數(shù) GB/T 9374-88
機構所在地:福建省福州市 更多相關信息>>
檢測項:幅度非線性 檢測樣品: 標準:
檢測項:幅度非線性 檢測樣品:頭戴式耳機和耳機 標準:音響系統(tǒng)設備第七部分-頭戴式耳機和耳機 IEC 60268-7:2010
機構所在地:山東省濰坊市 更多相關信息>>
檢測項:總諧波失真 檢測樣品:揚聲器及揚聲器系統(tǒng) 標準:GB/T 12060.5-2011聲系統(tǒng)設備 第5部分:揚聲器主要性能測試方法
機構所在地:廣東省廣州市 更多相關信息>>
檢測項:掃描電子顯微技術和電子束顯微分析 檢測樣品:集成電路/微電子器件 標準:微電子器件試驗方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005
檢測項:掃描電子顯微技術和電子束顯微分析 檢測樣品:電阻器/電容器 標準:微電子器件試驗方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005
檢測項:內部檢查 檢測樣品:集成電路/微電子器件 標準:微電子器件試驗方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005
機構所在地:江蘇省蘇州市 更多相關信息>>
檢測項:錫 檢測樣品:飲用水類 標準:生活飲用水標準檢驗方法金屬指標GB/T5750.6-2006 17
檢測項:微分電阻rZ 檢測樣品:光電耦合器 標準:《半導體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件》GB/T 15651-1995 《半導體分立器件試驗方法》GJB 128A-1997
檢測項:差模開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品:A/D 、D/A轉換器 標準:《半導體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉換器和模擬/數(shù)字轉換器測試方法》 SJ/T 10818-1996
檢測項:開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品:模擬開關 標準:《半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理》GB/T 14028-1992
機構所在地:貴州省貴陽市 更多相關信息>>
檢測項:微分電阻RZ 檢測樣品:晶體管 標準:半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 半導體分立器件和集成電路第7部分:場效應晶體管 GB/T 4587-1994
檢測項:部分參數(shù) 檢測樣品:運算(電壓)放大器 標準:半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
機構所在地:湖北省孝感市 更多相關信息>>
網絡文化經營許可證:文網文[2010]040號|增值電信業(yè)務經營許可證:浙B2-20080224-1|信息網絡傳播視聽節(jié)目許可證:1109364號