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西安開天電氣可靠性實(shí)驗(yàn)室有限公司

檢測項(xiàng)：交變濕熱試驗(yàn) 檢測樣品：電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）GB/T 2423.4-2008

檢測項(xiàng)：高溫 試驗(yàn) 檢測樣品：電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 GB/T 2423.2-2008

檢測項(xiàng)：低溫 試驗(yàn) 檢測樣品：電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 GB/T 2423.1-2008

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

富智康精密組件（北京）有限公司華北檢測中心

檢測項(xiàng)：交變濕熱試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：①環(huán)境測試第2部分 循環(huán)濕熱 Test Db IEC60068-2-30-2005 方法2

檢測項(xiàng)：低溫試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：①環(huán)境測試 第2部分 低溫試驗(yàn) Test A IEC 60068-2-1-2007 方法Ab

檢測項(xiàng)：高溫試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：①環(huán)境測試第2部分 干熱儲(chǔ)存 Test B IEC 60068-2-2-2007 方法Bb

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

上海優(yōu)立檢測技術(shù)有限公司

檢測項(xiàng)：交變濕熱 檢測樣品：電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法 GB/T 2423.4-2008

檢測項(xiàng)：鹽霧試驗(yàn) 檢測樣品：移動(dòng)臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)：移動(dòng)通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求與測試方法 YD/T 1539-2006

檢測項(xiàng)：鹽霧試驗(yàn) 檢測樣品：軌道交通 機(jī)車車輛電子裝置 標(biāo)準(zhǔn)：軌道交通 機(jī)車車輛電子裝置 GB/T 25119-2010 IEC 60571:2012

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

沈陽興華航空電器有限責(zé)任公司檢測中心

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檢測項(xiàng)：高溫試驗(yàn) 檢測樣品：機(jī)電產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn) GJB 150.3-1986

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深圳天祥質(zhì)量技術(shù)服務(wù)有限公司科技園經(jīng)營部

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檢測項(xiàng)：低溫 檢測樣品：電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《環(huán)境試驗(yàn)-第2-1部分: 試驗(yàn)-試驗(yàn)A: 低溫》 IEC 60068-2-1:2007

檢測項(xiàng)：干熱 檢測樣品：電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《環(huán)境試驗(yàn)-第2-2部分: 試驗(yàn)-試驗(yàn)B: 干熱》 IEC 60068-2-2:2007

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

東莞訊滔電子有限公司實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：回波損耗 檢測樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：USB 3.0-2008 通用串行總線規(guī)范3.0

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機(jī)構(gòu)所在地：廣東省東莞市 更多相關(guān)信息>>

華南國家計(jì)量測試中心/廣東省計(jì)量科學(xué)研究院

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機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市 更多相關(guān)信息>>

麥可羅泰克（常州）產(chǎn)品服務(wù)有限公司

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機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省常州市 更多相關(guān)信息>>

陜西省電子技術(shù)研究所電子元器件檢測篩選中心

檢測項(xiàng)：電源電壓抑制比(PSRR) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T4377-1996

檢測項(xiàng)：共模抑制比(CMRR) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T4377-1996

檢測項(xiàng)：紋波抑制比 (SRIP) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T4377-1996

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南京紫金計(jì)量有限公司

檢測項(xiàng)：接續(xù)損耗 檢測樣品：光纖熔接機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)：光纖熔接機(jī)通用規(guī)范 GB/T 17570-1998

檢測項(xiàng)：形狀誤差 檢測樣品：機(jī)械零件 標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差檢測規(guī)定GB/T1958-2004

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