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檢測項(xiàng)：宏觀檢查 檢測樣品：金屬材料 標(biāo)準(zhǔn)：檢測奧氏體不銹鋼晶間腐蝕敏感度的標(biāo)準(zhǔn)方法 ASTM A262-10
機(jī)構(gòu)所在地：遼寧省葫蘆島市
檢測項(xiàng)：電動(dòng)汽車專用部分 檢測樣品：變速器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 152A-97軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度測量
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
檢測項(xiàng)：紋波抑制比 檢測樣品：DC/DC電源裝置 標(biāo)準(zhǔn)：軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度測量 GJB152A－1997
檢測項(xiàng)：輸出電壓穩(wěn)定性 檢測樣品：DC/DC電源裝置 標(biāo)準(zhǔn)：軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度測量 GJB152A－1997
檢測項(xiàng)：瞬時(shí)過載特性 檢測樣品：DC/DC電源裝置 標(biāo)準(zhǔn)：軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度測量 GJB152A－1997
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市
檢測項(xiàng)：磁場敏感度 檢測樣品：電子計(jì)算器 標(biāo)準(zhǔn)：電子計(jì)算器通用技術(shù)條件 GB/T 4967-1995
檢測項(xiàng)：靜放電敏感度 檢測樣品：集成電路（IC）卡讀寫機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路（IC）卡讀寫機(jī)通用規(guī)范 GB/T 18239-2000
機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市
檢測項(xiàng)：晶間腐蝕 檢測樣品：金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn)：《奧氏體不銹鋼晶間腐蝕敏感度試驗(yàn)方法》ASTM A262-2010
檢測項(xiàng)：氫致開裂 檢測樣品：金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn)：《鍛制高鎳鉻軸承合金晶間腐蝕敏感度試驗(yàn)方法》ASTM G 28-02（2008）
檢測項(xiàng)：晶間腐蝕 檢測樣品：金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn)：《奧氏體不銹鋼晶間腐蝕敏感度試驗(yàn)方法》ASTM A262-2010
機(jī)構(gòu)所在地：甘肅省蘭州市
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
檢測項(xiàng)：靜電放電敏感度 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路外殼 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005 方法1003
檢測項(xiàng)：靜電放電敏感度 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路外殼 標(biāo)準(zhǔn)：電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360A-1996 方法302
檢測項(xiàng)：靜電放電敏感度 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路外殼 標(biāo)準(zhǔn)：電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009方法302
機(jī)構(gòu)所在地：安徽省蚌埠市
檢測項(xiàng)：平均晶粒度 檢測樣品：鐵磁材料 標(biāo)準(zhǔn)：《檢測奧氏體不銹鋼晶間腐蝕 敏感度的標(biāo)準(zhǔn)方法》ASTM A262-2010
檢測項(xiàng)：平均晶粒度 檢測樣品：鐵磁材料 標(biāo)準(zhǔn)：《檢測奧氏體不銹鋼晶間腐蝕 敏感度的標(biāo)準(zhǔn)方法》 ASTM A262-2010
機(jī)構(gòu)所在地：浙江省溫州市
檢測項(xiàng)：硫酸銅試驗(yàn) 檢測樣品：金屬及合金 標(biāo)準(zhǔn)：檢測奧氏體不銹鋼晶間腐蝕敏感度的標(biāo)準(zhǔn)方法 ASTM A262-13
機(jī)構(gòu)所在地：天津市
