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中國檢驗檢疫科學研究院綜合檢測中心

機構(gòu)所在地：北京市更多相關(guān)信息>>

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中國船舶重工集團公司第七O四研究所船舶環(huán)境工程與可靠性實驗室

檢測項：振動檢測樣品：機電設(shè)備標準：《電子及電氣元件試驗方法》 GJB360B-2009 方法201；方法204；方法214

檢測項：溫度檢測樣品：機電設(shè)備標準：《電子及電氣元件試驗方法》 GJB360B-2009 方法 107; 方法 108

機構(gòu)所在地：上海市更多相關(guān)信息>>

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四川省科源工程技術(shù)測試中心

檢測項：三軸壓縮檢測樣品：土工試驗標準：土工試驗方法標準 GB/T50123-1999

檢測項：界限含水率檢測樣品：土工試驗標準：土工試驗方法標準 GB/T50123-1999

檢測項：三軸壓縮檢測樣品：土工試驗標準：公路土工試驗規(guī)程 JTG E40-2007

機構(gòu)所在地：四川省成都市更多相關(guān)信息>>

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陜西華星電子集團有限公司計量檢測中心

檢測項：檢測樣品：標準：電子及電氣元件試驗方法 GJB360B-2009 方法201低頻振動試驗、方法204高頻振動試驗、方法214隨機振動試驗

檢測項：沖擊試驗檢測樣品：電子產(chǎn)品標準：GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法201低頻振動試驗、方法204高頻振動試驗、方法214隨機振動試驗

檢測項：可焊性，耐焊接熱檢測樣品：標準：GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法212電子及電氣元件試驗方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗

機構(gòu)所在地：陜西省咸陽市更多相關(guān)信息>>

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北京經(jīng)緯恒潤科技有限公司中心實驗室

檢測項：防水試驗檢測樣品：電子控制器標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導則 GB/T 2423.38-

檢測項：沙塵試驗檢測樣品：電子控制器標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006

檢測項：恒定濕熱試驗檢測樣品：電子控制器標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006

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深圳市華測檢測技術(shù)股份有限公司

檢測項：電性能測試檢測樣品：橡膠及有關(guān)制品標準：微電子器件試驗方法和程序方法GJB 548 B-2005 5003 微電路的失效分析程序微電路試驗方法標準方法 MIL-STD-883G-2006

檢測項：電性能測試檢測樣品：橡膠及有關(guān)制品標準：微電子器件試驗方法和程序方法GJB 548 B-2005微電路的失效分析程序微電路試驗方法標準方法 MIL-STD-883G-2006

檢測項：耐焊接熱試驗檢測樣品：PCB/PCBA印制板檢測標準：微電路試驗方法標準方法MIL-STD-883G-2006

機構(gòu)所在地：廣東省深圳市更多相關(guān)信息>>

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長飛光纖光纜股份有限公司檢測中心

檢測項：衰減檢測樣品：光纖標準：光纖試驗方法規(guī)范第40部分：傳輸和光學特性的測量方法和試驗程序—衰減 GB/T 15972.40-2008

檢測項：長度檢測樣品：光纖標準：光纖試驗方法規(guī)范第22部分：尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序—長度測量 GB/T 15972.22-2008

機構(gòu)所在地：湖北省武漢市更多相關(guān)信息>>

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北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測實驗室有限公司

檢測項：粒子碰撞噪聲檢測檢測樣品：電子元器件（物理試驗）標準：1.GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序,方法2020.1 2.GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法，方法2052 3.GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法方法217

檢測項：密封檢測樣品：電子元器件(氣候試驗) 標準：1.GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序，方法1014.2 2.GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法，方法1071 3.GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法，方法112

檢測項：可焊性檢測樣品：電子元器件(氣候試驗) 標準：1.GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序，方法2003.1 2.GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法，方法2026 3.GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法，方法208

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湖北航天技術(shù)研究院計量測試技術(shù)研究所

檢測項：高溫貯存檢測樣品：電子元器件試驗標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1穩(wěn)定性烘焙；半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-97方法1031高溫壽命電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009 方法108高溫壽命試驗；

檢測項：溫度循環(huán) 檢測樣品：電子元器件試驗標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1溫度循環(huán) 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1051溫度循環(huán)（空氣-空氣）電子及電氣元件試驗方法 GJB360B-2009 方法107溫度沖擊試驗；

檢測項：密封檢測樣品：電子元器件試驗標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法1014.2密封半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-97 方法1071密封電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009 方法112密封試驗；

機構(gòu)所在地：湖北省孝感市更多相關(guān)信息>>

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廣州廣電計量檢測股份有限公司

檢測項：沖擊檢測樣品：電子及電氣元件標準：電子及電氣元件試驗方法GJB 360B-2009 方法201 方法204 電子及電氣元件試驗方法MIL-STD-202G-2004 方法201 方法204

檢測項：跌落檢測樣品：電子及電氣元件標準：電子及電氣元件試驗方法GJB 360B-2009 方法201 方法204 電子及電氣元件試驗方法MIL-STD-202G-2004 方法201 方法204

檢測項：振動檢測樣品：電子及電氣元件標準：電子及電氣元件試驗方法GJB 360B-2009 方法201 方法204 電子及電氣元件試驗方法MIL-STD-202G-2004 方法201 方法204

機構(gòu)所在地：廣東省廣州市更多相關(guān)信息>>

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