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耐候性(Weatherability) 材料曝露在日光、冷熱、風(fēng)雨等氣候條件下的耐受性。 耐候性 測試方法: 自然氣候、室外強化、實驗室模擬 耐候性 測試儀器:紫外光耐氣候試驗箱 查看詳情>>
耐候性(Weatherability)
材料曝露在日光、冷熱、風(fēng)雨等氣候條件下的耐受性。
耐候性測試方法:自然氣候、室外強化、實驗室模擬
耐候性測試儀器:紫外光耐氣候試驗箱
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
機構(gòu)所在地:上海市
檢測項:反向小信號增益 檢測樣品:光纖放大器(EDFA) 標(biāo)準:光纖放大器試驗方法基本規(guī)范 第2部分:功率參數(shù)的試驗方法 GB/T 16850.2-1999
檢測項:最大小信號增益 檢測樣品:光纖放大器(EDFA) 標(biāo)準:光纖放大器試驗方法基本規(guī)范 第2部分:功率參數(shù)的試驗方法 GB/T 16850.2-1999
檢測項:最大小信號增益波長 檢測樣品:光纖放大器(EDFA) 標(biāo)準:光纖放大器試驗方法基本規(guī)范 第2部分:功率參數(shù)的試驗方法 GB/T 16850.2-1999
機構(gòu)所在地:湖北省武漢市
檢測項:開環(huán)性能(增益,帶寬,失真,動態(tài)范圍) 檢測樣品:RF器件 標(biāo)準:微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2
檢測項:開環(huán)性能(增益,帶寬,失真,動態(tài)范圍) 檢測樣品:CMOS集成電路 標(biāo)準:微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:時基電路 標(biāo)準:半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
機構(gòu)所在地:上海市
檢測項:部分參數(shù) 檢測樣品:運算(電壓)放大器 標(biāo)準:半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
檢測項:穩(wěn)態(tài)功率 檢測樣品:晶體管 標(biāo)準:半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997
機構(gòu)所在地:湖北省孝感市
檢測項:增益 檢測樣品:移動通信直流穩(wěn)壓電源 標(biāo)準:GB/T 13722-1992 移動通信電源技術(shù)要求和試驗方法
機構(gòu)所在地:廣東省廣州市
機構(gòu)所在地:山東省青島市
檢測項:耐潮濕性 檢測樣品:低壓成套無功功率補償裝置 標(biāo)準:低壓成套無功功率補償裝置GB/T15576-2008
檢測項:電氣間隙和爬電距離 檢測樣品:低壓成套無功功率補償裝置 標(biāo)準:低壓成套無功功率補償裝置GB/T15576-2008
檢測項:機械操作 檢測樣品:低壓成套無功功率補償裝置 標(biāo)準:低壓成套無功功率補償裝置GB/T15576-2008
機構(gòu)所在地:湖北省武漢市
檢測項:可焊性 檢測樣品:低功率非線繞固定電阻器 標(biāo)準:電子設(shè)備用固定電阻器 第2部分:分規(guī)范:低功率非線繞固定電阻器GB/T5730-1985
檢測項:可焊性 檢測樣品:低功率非線繞固定電阻器 標(biāo)準:電子設(shè)備用固定電阻器 第2部分:分規(guī)范:低功率非線繞固定電阻器GB/T5730-1985
檢測項:自動增益控制特性 檢測樣品:汽車收放音機 標(biāo)準:汽車收放音機總技術(shù)條件SJ/T10369-1993
機構(gòu)所在地:山東省濟南市
機構(gòu)所在地:浙江省杭州市