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電子元器件中低溫檢測(cè)

  • 樣品名稱:電子元器件

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:低溫

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)A:低溫》 GB/T 2423.1-2008/

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >

  • 標(biāo)簽: 低溫 電子元器件

電子元器件中低溫更多檢測(cè)機(jī)構(gòu)