您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所元器件檢測(cè)中心 > 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件中溫度循環(huán)試驗(yàn)檢測(cè)
樣品名稱:電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目:溫度循環(huán)試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1051 溫度循環(huán)(空氣-空氣)GJB128A-1997
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 溫度循環(huán)試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件