您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所元器件檢測中心 > 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件中粒子碰撞噪聲檢測檢測
樣品名稱:電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
檢測項(xiàng)目:粒子碰撞噪聲檢測
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法 方法2020.1粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn) GJB548B-2005
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 粒子碰撞噪聲檢測 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件