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混合集成電路中插入損失Li檢測

  • 樣品名稱：混合集成電路

  • 檢測項(xiàng)目：插入損失Li

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 2438A-2002 混合集成電路總規(guī)范 2、GJB 548A－1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B－2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能測試方法 5、SJ 20645

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 插入損失Li 混合集成電路

混合集成電路中插入損失Li更多檢測機(jī)構(gòu)

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