您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 上海精密計(jì)量測(cè)試研究所 > 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器中輸入失調(diào)電流IIO檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器
檢測(cè)項(xiàng)目:輸入失調(diào)電流IIO
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T14115-1993 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 輸入失調(diào)電流IIO 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器