您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 上海精密計(jì)量測(cè)試研究所 > 半導(dǎo)體集成電路TTL電路中片選取數(shù)時(shí)間tAC檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路TTL電路
檢測(cè)項(xiàng)目:片選取數(shù)時(shí)間tAC
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 片選取數(shù)時(shí)間tAC 半導(dǎo)體集成電路TTL電路