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微電子器件中晶體管內(nèi)部目檢（封帽前）檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：微電子器件

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：晶體管內(nèi)部目檢（封帽前）

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

  • 所屬行業(yè)分類(lèi)：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽： 晶體管內(nèi)部目檢（封帽前） 微電子器件

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