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樣品名稱:混合集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:穩(wěn)定性烘焙
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 穩(wěn)定性烘焙 混合集成電路