您當(dāng)前的位置:首頁 > 北京光華無線電廠檢測試驗(yàn)中心 > 塑封半導(dǎo)體集成電路中外部目檢檢測
樣品名稱:塑封半導(dǎo)體集成電路
檢測項(xiàng)目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第23部分:傾斜和搖擺試驗(yàn) GJB150.23A-2009
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標(biāo)簽: 外部目檢 塑封半導(dǎo)體集成電路