您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 北京光華無(wú)線電廠檢測(cè)試驗(yàn)中心 > 塑封半導(dǎo)體集成電路中外部目檢檢測(cè)
樣品名稱(chēng):塑封半導(dǎo)體集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 外部目檢 塑封半導(dǎo)體集成電路