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塑封半導(dǎo)體集成電路中外部目檢檢測

  • 樣品名稱：塑封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測項(xiàng)目：外部目檢

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標(biāo)簽： 外部目檢 塑封半導(dǎo)體集成電路

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