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密封半導(dǎo)體集成電路中X射線檢查檢測

  • 樣品名稱:密封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測項目:X射線檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標(biāo)簽: X射線檢查 密封半導(dǎo)體集成電路

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