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GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序（392頁）

• 資料介紹

  GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序（392頁）

  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用微電子器件的環(huán)境、機械、電氣試驗方法和實驗程序，以及為保證微電子器件滿足預(yù)定用途所要求的質(zhì)量和可靠性而必須的控制和限制措施。

  本標(biāo)準(zhǔn)適用于軍用及空間應(yīng)用的微電子器件。

  如果承制方標(biāo)明或聲稱其半導(dǎo)體集成電路符合本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，則必須滿足方法5004、5005或5010（對復(fù)雜微電路）的要求混合集成電路應(yīng)滿足GJB2438的要求，同事應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)的一般要求和所引用的其他試驗方法的要求，而且產(chǎn)品規(guī)范應(yīng)經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化機構(gòu)確認(rèn)。

• 資料大?。?/label>
  12632.77KB
• 所屬類別：
  法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)
• 更新日期：
  2019-10-31
• 適用行業(yè)：
  電子電氣；特種設(shè)備；機動車；醫(yī)療器械
• 上傳人：
  abctesting
• 標(biāo) 簽：

  微電子器件 GJB548B

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