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GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)A低溫（14頁(yè)）

• 資料介紹

  GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)A低溫.pdf

  標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
  本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。 
  本部分代替GB/T 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下： 
  ——刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)； 
  ——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E； 
  ——增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。
  采標(biāo)情況：IDT IEC 60068-2-1:2007

• 資料大?。?/label>
  900.04KB
• 所屬類別：
  法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)
• 更新日期：
  2020-08-07
• 適用行業(yè)：
  電子電氣
• 上傳人：
  xvmg123
• 標(biāo) 簽：

  環(huán)境試驗(yàn) 低溫

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