非高斯隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)下電子零件加速測(cè)試的疲勞壽命預(yù)測(cè)模型(5頁(yè))
Fatigue life prediction model for accelerated testing of electronic components under non-Gaussian random vibration excitations
Yu Jiang,J.Y. Tao,Y.A. Zhang,G.J. Yunb
基于隨機(jī)振動(dòng)和疲勞理論,提出了一種非高斯隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)下電子元件疲勞壽命的預(yù)測(cè)模型。該數(shù)學(xué)模型將電子部件的振動(dòng)疲勞壽命,振動(dòng)激勵(lì)的特征(例如均方根,功率譜密度,光譜帶寬和峰度值)與電子組件的動(dòng)態(tài)傳遞特性(例如電子振動(dòng))綜合關(guān)聯(lián)起來(lái)。固有頻率和阻尼比)。同時(shí)提出了確定模型中未知參數(shù)的詳細(xì)求解方法。為了驗(yàn)證模型,進(jìn)行了一系列隨機(jī)振動(dòng)疲勞加速試驗(yàn)。結(jié)果表明,基于模型的預(yù)測(cè)疲勞壽命與實(shí)際試驗(yàn)吻合。該疲勞壽命預(yù)測(cè)模型可用于振動(dòng)疲勞加速試驗(yàn)的定量設(shè)計(jì),可用于評(píng)估高斯和非高斯隨機(jī)振動(dòng)環(huán)境下電子組件的長(zhǎng)期疲勞可靠性。
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