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集成電路IC測試方法研究.doc(80頁)

• 資料介紹

  集成電路IC測試方法研究.doc(80頁)

  1  序言

  2  集成電路可測試性設(shè)計的基本概念

  3  邊界掃描測試方法

  4  全掃描可測試性實現(xiàn)方法

  5  集成電路的低功耗DFT方法

  6  測試調(diào)度問題

  7  總結(jié)與展望

• 資料大?。?/label>
  1080.05KB
• 所屬類別：
  法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)
• 更新日期：
  2020-11-02
• 適用行業(yè)：
  電子電氣
• 上傳人：
  wutong2020
• 標(biāo) 簽：

  集成電路 IC測試

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