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GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合標(biāo)準(zhǔn)(15頁)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
GB/T 2423的本部分規(guī)定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合試驗(yàn)的基本要求、嚴(yán)酷等級(jí)、試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。
本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(dòng)(隨機(jī))綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。
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