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AEC-Q001 Rev-D 零件平均測試指南（12頁）

• 資料介紹

  GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING

  AEC-Q001 Rev-D 零件平均測試指南（12頁）

   

  1. 范圍

  本指南提出了一種基于統(tǒng)計的方法，稱為部件平均測試 (PAT)，用于從按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 提供的半導體中去除具有異常特性（異常值）的部件。 PAT 中使用的測試限制是根據(jù)具有獨特設計和處理的特定部件的電氣測試結果樣本確定的。每個零件設計及其相關處理將顯示每個測試要求的測試結果的獨特分布，該數(shù)據(jù)是建立 PAT 限制的基礎。本指南中描述的原則適用于封裝或未封裝芯片。有關 PAT 及其可能用于提供已知良好芯片的進一步討論，請參見附錄 1。

  1.1 目的

  本指南旨在提供去除異常零件的通用方法，從而提高按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 供應的零件的質量和可靠性。 PAT 和 AEC-Q002（統(tǒng)計產量分析）并不是一項要求。應用的確切方法可能與本指南中描述的不同，特別是如果分布是非正態(tài)的?？梢栽诰哂辛己媒y(tǒng)計理由的情況下使用此類衍生方法。供應商應準備好證明所使用的統(tǒng)計方法的合理性。

  歷史表明，具有異常特性的零件會顯著導致質量和可靠性問題。使用這種技術還可以標記流程變化，并提供快速反饋的來源，以防止質量事故。

   

• 資料大?。?/label>
  160.93KB
• 所屬類別：
  法規(guī)標準
• 更新日期：
  2021-09-10
• 適用行業(yè)：
  電子電氣；機動車
• 上傳人：
  Chennnn
• 標 簽：

  零件平均測試

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