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JESD22-A117E電可擦除可編程只讀存儲器（EEPROM）程序/擦除耐久性和數(shù)據(jù)保持應(yīng)力測試（En,24頁）

• 資料介紹

  JESD22-A117E 電可擦除可編程只讀存儲器（EEPROM）程序/擦除耐久性和數(shù)據(jù)保持應(yīng)力測試

  JESD22-A117E  Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test

  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了根據(jù)鑒定規(guī)范進行有效耐久性、保持性和交叉溫度試驗的程序要求。JESD47中規(guī)定了耐久性和保留鑒定規(guī)范（針對循環(huán)計數(shù)、持續(xù)時間、溫度和樣本量），或者可以使用JESD94中基于知識的方法制定。
  使用JESD47中規(guī)定的參數(shù)級別進行鑒定和監(jiān)測的程序/擦除耐久性和數(shù)據(jù)保留測試被認(rèn)為是破壞性的。當(dāng)溫度和時間達(dá)到或超過鑒定要求時，數(shù)據(jù)保持應(yīng)力可以用作替代高溫儲存壽命測試的代理。當(dāng)證明在低溫下編程和在高溫下讀取的敏感性時，可以考慮在數(shù)據(jù)表溫度范圍內(nèi)進行跨溫度寫入和讀取測試，反之亦然。只要設(shè)備制造商已經(jīng)驗證這些參數(shù)水平是無損的，就可以使用較小的測試參數(shù)水平（例如，溫度、循環(huán)次數(shù)、保溫烘烤持續(xù)時間）進行篩選；這可以在從晶圓級到成品器件的任何地方進行。
   

• 資料大?。?/label>
  277.82KB
• 所屬類別：
  法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)
• 更新日期：
  2023-04-17
• 適用行業(yè)：
  電子電氣
• 上傳人：
  JunYu
• 標(biāo) 簽：

  存儲器 應(yīng)力測試

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