JESD22-A117E電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)程序/擦除耐久性和數(shù)據(jù)保持應(yīng)力測(cè)試(En,24頁)
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JESD22-A117E 電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)程序/擦除耐久性和數(shù)據(jù)保持應(yīng)力測(cè)試
JESD22-A117E Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了根據(jù)鑒定規(guī)范進(jìn)行有效耐久性、保持性和交叉溫度試驗(yàn)的程序要求。JESD47中規(guī)定了耐久性和保留鑒定規(guī)范(針對(duì)循環(huán)計(jì)數(shù)、持續(xù)時(shí)間、溫度和樣本量),或者可以使用JESD94中基于知識(shí)的方法制定。
使用JESD47中規(guī)定的參數(shù)級(jí)別進(jìn)行鑒定和監(jiān)測(cè)的程序/擦除耐久性和數(shù)據(jù)保留測(cè)試被認(rèn)為是破壞性的。當(dāng)溫度和時(shí)間達(dá)到或超過鑒定要求時(shí),數(shù)據(jù)保持應(yīng)力可以用作替代高溫儲(chǔ)存壽命測(cè)試的代理。當(dāng)證明在低溫下編程和在高溫下讀取的敏感性時(shí),可以考慮在數(shù)據(jù)表溫度范圍內(nèi)進(jìn)行跨溫度寫入和讀取測(cè)試,反之亦然。只要設(shè)備制造商已經(jīng)驗(yàn)證這些參數(shù)水平是無損的,就可以使用較小的測(cè)試參數(shù)水平(例如,溫度、循環(huán)次數(shù)、保溫烘烤持續(xù)時(shí)間)進(jìn)行篩選;這可以在從晶圓級(jí)到成品器件的任何地方進(jìn)行。
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法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)
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2023-04-17
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電子電氣
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