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2015年6月,F(xiàn)CC發(fā)布了AC電源線傳導(dǎo)發(fā)射的常見問題釋義,主要對(duì)通過USB設(shè)備將進(jìn)行供電的設(shè)備傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試進(jìn)行了解釋。
2015/07/20 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文介紹了電磁兼容EMI電磁輻射傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)常用檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)目錄。
2023/09/19 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文就和大家分享下在解決交流充電傳導(dǎo)發(fā)射時(shí)的一些思考。
2025/03/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了CE101、CE102、CE106及CE107傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試方案。
2025/04/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了為什么傳導(dǎo)發(fā)射電流法測(cè)試中dBμV會(huì)出現(xiàn)負(fù)數(shù)。
2025/05/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對(duì)汽車電子零部件EMC發(fā)射測(cè)試包含CTE(電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射),MFE(低頻磁場(chǎng)發(fā)射),CE(傳導(dǎo)發(fā)射-AN(電壓法)和CP(電流法))以及RE(輻射發(fā)射)四項(xiàng)進(jìn)行解析。
2021/05/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試,干擾信號(hào)除了通過電源線傳導(dǎo)外,也存在一定的空間耦合。尤其當(dāng)干擾信號(hào)為產(chǎn)品某部件的工作頻率時(shí),發(fā)生空間耦合的可能性越大,產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中需要規(guī)避此風(fēng)險(xiǎn)。
2020/09/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及在傳導(dǎo)測(cè)試中如何解決開關(guān)頻率超標(biāo)。
2022/06/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
傳導(dǎo)騷擾測(cè)試(Conducted Emission),簡(jiǎn)稱CE測(cè)試,通常也會(huì)被稱為傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試或騷擾電壓測(cè)試等。
2023/02/03 更新 分類:科研開發(fā) 分享
傳導(dǎo)發(fā)射(Conducted Emission)測(cè)試,通常也會(huì)被成為騷擾電壓測(cè)試,只要有電源線的產(chǎn)品都會(huì)涉及到,包括許多直流供電產(chǎn)品
2019/02/22 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享