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關鍵元器件—安規(guī)CB認證參考標準匯總如下：
2021/06/15 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文對常用電子元器件的檢測經(jīng)驗和方法進行詳細介紹。
2021/10/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件貯存期的定義和計算規(guī)則。
2021/12/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要紹了各類元器件失效機理。
2022/02/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了電子元器件鍍層的種類與檢驗方法。
2023/10/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了各種電子元器件損壞后的現(xiàn)象。
2023/12/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件靜電放電損傷控制要求。
2024/03/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了假冒偽劣元器件的部分檢查方法。
2024/03/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件失效后從哪些方面去排查故障問題。
2024/04/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了元器件損壞后的問題排查路徑。
2024/04/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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