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本文基于高溫烘烤下的可靠性測(cè)試結(jié)果,對(duì)窄金屬與寬引線連接結(jié)構(gòu)中的應(yīng)力遷移(SM)現(xiàn)象展開(kāi)了研究。
2024/11/30 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
DPA是一種通過(guò)對(duì)芯片進(jìn)行破壞性拆解和分析,評(píng)估其設(shè)計(jì)、材料、工藝等方面潛在缺陷的可靠性測(cè)試方法。
2025/02/15 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
今天的主角是一批還沒(méi)米粒大的三極管。本來(lái)指望它們能在客戶那里大放異彩,結(jié)果沒(méi)走出實(shí)驗(yàn)室,就在可靠性測(cè)試環(huán)節(jié)“集體陣亡”。
2025/09/26 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
隨著新能源汽車的快速發(fā)展,動(dòng)力電池作為其核心部件,其安全性和可靠性備受關(guān)注。在眾多測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中,IPX9K防水等級(jí)測(cè)試因其嚴(yán)苛的條件和實(shí)際應(yīng)用中的重要性,成為動(dòng)力電池測(cè)試中不可或缺的一環(huán)。那么,為什么動(dòng)力電池需要接受IPX9K測(cè)試?這項(xiàng)測(cè)試究竟有何意義?本文將從技術(shù)角度深入探討這一問(wèn)題,并結(jié)合實(shí)際案例加以說(shuō)明。
2025/06/10 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
決定元器件測(cè)試篩選先后次序的原則:失效概率最大的篩選方法首先做;當(dāng)一種失效模式可以與其他失效模式產(chǎn)生關(guān)聯(lián)時(shí),應(yīng)將此失效模式的篩選放在前面;容易觸發(fā)失效的篩選方法首先進(jìn)行;便宜的先做;時(shí)間長(zhǎng)的后做;若有耐電壓、絕緣電阻測(cè)試要求,耐壓在前、絕緣在后,功能參數(shù)最后;若有擊穿電壓和漏電流測(cè)試要求,擊穿電壓在前,漏電流在后,功能參數(shù)最后。
2021/07/13 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài),對(duì)每一個(gè)器件進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠性確認(rèn),特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試
2018/08/01 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
如果常溫下三防漆附著力差,便保證不了長(zhǎng)期的防護(hù)性,那么可靠性方面更不用提。所以,學(xué)習(xí)和了解附著力測(cè)試可以大大節(jié)約檢測(cè)時(shí)間和檢測(cè)成本,以下和大家分享下三防漆附著力標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法,希望對(duì)大家有所幫助。
2020/09/01 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
芯片剪切強(qiáng)度試驗(yàn)主要是考核芯片與底座的附著強(qiáng)度,評(píng)價(jià)芯片安裝在底座上所使用的材料和工藝步驟的可靠性,是對(duì)芯片封裝質(zhì)量的測(cè)試方法。根據(jù)剪切力的大小來(lái)判斷芯片封裝的質(zhì)量是否符合要求,并根據(jù)芯片剪切時(shí)失效的位置和失效模式來(lái)及時(shí)糾正芯片封裝過(guò)程中所發(fā)生的問(wèn)題。
2022/10/28 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文研究了機(jī)載空氣增壓裝置在高壓、低壓、高溫、低溫環(huán)境條件下進(jìn)氣機(jī)理?xiàng)l件,建立了以上不同環(huán)境條件下的模擬進(jìn)氣模型,開(kāi)發(fā)出一套用于測(cè)試機(jī)載空氣增壓裝置性能指標(biāo)的自動(dòng)化系統(tǒng),該測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)對(duì)驗(yàn)證機(jī)載空氣增壓裝置的性能可靠性和穩(wěn)定性具有重要意義。
2023/04/07 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
環(huán)境與可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)介紹
2017/08/21 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享