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  • 可靠性測試中的HALT實驗與HASS實驗

    可靠性測試中的HALT實驗與HASS實驗 HALT HASS是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗證方法。

    2015/11/26 更新 分類：實驗管理 分享

  • 汽車電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試參數(shù)推薦

    汽車是由多達(dá)幾千個電子零部件組成的復(fù)雜產(chǎn)品，隨著汽車產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，功能越來越齊全，而這些電子零部件產(chǎn)品可靠性十分重要，它也直接決定了整車的安全及運行可靠性。

    2024/01/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 一種考慮軟件工作載荷的可靠性綜合試驗剖面設(shè)計技術(shù)

    本文對依據(jù)GJB 899A-2009實施的可靠性試驗和依據(jù)GJB/Z141-2004的軟件測試，進(jìn)行了比較和分析，針對其對軟件密集型裝備可靠性試驗的薄弱環(huán)節(jié)，研究提出一種考慮軟件工作載荷的可靠性綜合試驗剖面設(shè)計技術(shù)，并通過某型裝備進(jìn)行了應(yīng)用試驗驗證。

    2021/09/01 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 振動測試系統(tǒng)的測試方式

    測試系統(tǒng)采用的測試方法取決于測試系統(tǒng)的性能指標(biāo)，諸如非線性度、精度、分辨率、誤差、零漂、溫漂及可靠性等。 在上述測試系統(tǒng)性能指標(biāo)確定后，根據(jù)成本預(yù)算、人機界面、測量模塊與其他模塊的界面要求選擇測試方法。這里以旋轉(zhuǎn)設(shè)備為例來說明測試方式的確定。

    2019/08/29 更新 分類：檢測案例 分享

  • 紡織品性能測試

    作為您可靠的質(zhì)量服務(wù)合作伙伴,，本中心提供紡織品可靠性試驗，以確保你的產(chǎn)品質(zhì)量。

    2017/04/22 更新 分類：實驗管理 分享

  • 芯片可靠性測試與設(shè)計討論

    芯片的壽命試驗HTOL（high temperature operation life）測試，曾經(jīng)被認(rèn)為某個芯片通過了HTOL 測試之后，就能夠達(dá)到10年的壽命要求，其實不然。本文介紹了其主要原因。

    2021/05/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • PCB設(shè)計Tg值的測試方法以及影響因素

    該文對三種Tg測試方法、測試原理及各自優(yōu)劣進(jìn)行了比較；分析了板材Tg值對PCB可靠性的影響，以及Tg的影響因素。

    2021/06/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 基于SiC MOSFET 的浪涌可靠性研究

    本文介紹了浪涌測試及其意義，國內(nèi)外SiC MOSFET浪涌性能的研究現(xiàn)狀及浪涌測試原理概述等。

    2023/03/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 功率半導(dǎo)體動態(tài)柵極應(yīng)力測試方法

    本文介紹了使用動態(tài)柵極應(yīng)力(Dynamic Gate Stress, DGS)測試過程對基于SiC的功率半導(dǎo)體進(jìn)行新型可靠性測試的意義。

    2024/03/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 芯片高溫壽命測試標(biāo)準(zhǔn)與方法

    HTOL (High-Temperature Operating Life) 即高溫壽命測試，通過溫度、電壓激活失效機制來評估芯片可靠性的測試方法。

    2025/05/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享