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簡單介紹了光電子元器件可靠性檢測中的物理特性測試、機械完整性試驗、加速老化試驗

2018/05/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文簡單介紹電子元器件中物理測試項目，機械完整性試驗項目和加速老化試驗項目三個方面的可靠性檢測。

2018/06/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享

可靠性試驗是為了提高或確認產品、裝置及零件的可靠性進行的試驗的總稱。

2019/05/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子元器件可靠性需要進行物理特性測試項目、機械完整性試驗項目、加速老化試驗項目

2020/06/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文就可靠性試驗未來的9個方向展開了詳細論述

2021/04/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹了可靠性強化加速壽命試驗標準、實施流程與典型應力類型。

2022/02/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了GJB899A可靠性鑒定驗收試驗大綱內容。

2022/06/15 更新 分類：實驗管理 分享

雙85試驗：嚴苛環(huán)境下的可靠性試金石。

2025/09/10 更新 分類：實驗管理 分享

在可靠性工程領域，加速退化試驗（ADT） 是評估高可靠性、長壽命產品性能退化的關鍵技術。

2025/09/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

一般來說為了評價分析電子產品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預測從產品出廠到其使用壽命結束期間的質量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后，設定環(huán)境應力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內，正確評估產品可靠性。

2018/03/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享