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  • MTBF可靠性試驗(yàn)方法

    MTBF可靠性試驗(yàn)方法。

    2025/10/12 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 各類可靠性試驗(yàn)測(cè)試目的、適用對(duì)象和適用時(shí)機(jī)

    可靠性試驗(yàn)必備基礎(chǔ)小知識(shí)!

    2025/12/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 六類可靠性試驗(yàn)的區(qū)別與聯(lián)系

    依據(jù)GJB450A《裝備可靠性工作通用要求》分類,可靠性試驗(yàn)可以分為環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性研制試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)。

    2018/03/06 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 如何制定可靠性鑒定試驗(yàn)方案?

    可靠性鑒定試驗(yàn)是為了考核產(chǎn)品可靠性是否達(dá)到了規(guī)定的可靠性要求,由訂購(gòu)方用有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定條件下所做的試驗(yàn),并以此作為批準(zhǔn)設(shè)計(jì)定型的依據(jù)之一,是一種抽樣檢驗(yàn)。

    2019/02/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 可靠性統(tǒng)計(jì)方法

    可靠性技術(shù)正式誕生于上個(gè)世紀(jì)50年代,發(fā)展至今形成了一系列具有共性和一般意義的技術(shù)方法論,主要包括:可靠性統(tǒng)計(jì)方法、故障分析方法、可靠性試驗(yàn)方法、可靠性物理方法、可靠性邏輯方法、可靠性設(shè)計(jì)方法。今天說說可靠性統(tǒng)計(jì)方法。

    2022/06/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 可靠性試驗(yàn)之“EMI試驗(yàn)”

    本文就針對(duì)RE和CE進(jìn)行詳細(xì)介紹,主要包括試驗(yàn)?zāi)康?、?biāo)準(zhǔn)、設(shè)備、方法、試驗(yàn)結(jié)果及判定。

    2019/02/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的差異

    環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的不同之處主要在于試驗(yàn)?zāi)康?、試?yàn)所使用應(yīng)力數(shù)量、環(huán)境應(yīng)力值選用、試驗(yàn)類型、試驗(yàn)時(shí)間等五個(gè)方面。

    2018/03/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 服務(wù)器可靠性試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)

    在進(jìn)行可靠性試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)時(shí),首先要選擇統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案,在國(guó)軍標(biāo)GJB899A中有:概率比序貫試驗(yàn)方案、定時(shí)截尾試驗(yàn)方案、全數(shù)試驗(yàn)方案;在國(guó)標(biāo)中GB/T5080中有:序貫試驗(yàn)方案、定時(shí)/定數(shù)截尾試驗(yàn)方案、綜合試驗(yàn)方案。

    2021/03/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 可靠性試驗(yàn)寶貴經(jīng)驗(yàn)分享

    環(huán)境應(yīng)力篩選的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)、可靠性研制試驗(yàn)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)、壽命試驗(yàn)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)

    2018/01/10 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 電子設(shè)備熱循環(huán)加速可靠性試驗(yàn)

    本文分析了電子設(shè)備熱循環(huán)失效機(jī)理,介紹焊點(diǎn)熱循環(huán)失效的Engelmaier-Wild壽命模型。應(yīng)用Engelmaier-Wild壽命模型, 本文提出了一種電子設(shè)備熱循環(huán)加速可靠性試驗(yàn)方案。通過某電路板熱循環(huán)加速可靠性試驗(yàn)案例及其試驗(yàn)數(shù)據(jù),驗(yàn)證了Engelmaier-Wild壽命模型應(yīng)用在電子設(shè)備熱循環(huán)加速可靠性試驗(yàn)的適用性。

    2021/07/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享