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失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2017/10/16 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
?本文介紹了ESD與EOS失效差異。
2024/09/29 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
失效分析對(duì)電子元器件失效機(jī)理、原因的診斷過(guò)程,是提高電子元器件可靠性的必由之路。
2015/11/18 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享
失效分析常用方法
2017/05/19 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
失效原因之異物分析
2017/08/29 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
失效分析是對(duì)電子元器件失效機(jī)理、原因的診斷過(guò)程,是提高電子元器件可靠性的必由之路。
2017/10/12 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文分析了PCB板組件在不同環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生失效及其相應(yīng)失效的原因。
2022/03/01 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文以圖騰柱驅(qū)動(dòng)電路為例,針對(duì)電路無(wú)法輸出高電平的失效表現(xiàn),基于電路分析,得到失效的可能因素,為根因分析工作的開(kāi)展打下基礎(chǔ)。
2022/08/26 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
汽車(chē)下擺臂在超強(qiáng)壞路試驗(yàn)中發(fā)生斷裂,路試?yán)锍蹋?.6PH1(相當(dāng)于37440km)。客戶(hù)送檢失效樣品進(jìn)行檢測(cè)分析,以期找出失效原因。
2024/05/25 更新 分類(lèi):檢測(cè)案例 分享
芯片短路失效模式在芯片失效分析中是最常見(jiàn)的,那么針對(duì)這種故障模式應(yīng)該怎么開(kāi)展失效分析呢?
2024/12/22 更新 分類(lèi):檢測(cè)案例 分享