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基于故障物理（Physics of Failure, PoF）的分析方法，通過深入理解材料劣化與結構失效的內(nèi)在機制，結合環(huán)境與工作載荷，為電路板的可靠性設計、評估和壽命預測提供了強有力的科學工具，正成為現(xiàn)代電子可靠性工程的基石。
2025/09/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了可靠性壽命數(shù)據(jù)分析的參數(shù)估計方法選擇問題。
2024/04/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享
一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后，設定環(huán)境應力
2022/05/30 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文介紹了做MTBF可靠性試驗需要提供哪些資料，采用哪些可靠性方案，可靠性試驗的應力選擇，樣品臺數(shù)的選擇，可靠性壽命試驗MTBF的指標是什么，可靠性試驗MTBF壽命試驗一般需要多久的測試周期及相關檢測標準。
2021/07/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了可靠性和MTBF的定義及如何解讀MTBF和可靠性。
2022/03/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享
平均無故障時間MTBF可靠性壽命試驗常用檢測標準清單
2023/01/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
可靠性強化試驗采用激發(fā)應力環(huán)境(其應力水平可能遠遠超過正常使用環(huán)境)進行試驗，快速激發(fā)產(chǎn)品潛在缺陷，使其以故障形式表現(xiàn)出來，通過故障原因分析、失效模式分析和改進措施消除缺陷，提高產(chǎn)品可靠性，并大幅度提高試驗效率、降低成本。
2016/07/22 更新 分類：生產(chǎn)品管 分享
本文將分享HALT/HASS試驗方法，了解其如何快速暴露產(chǎn)品缺陷，為企業(yè)提升產(chǎn)品可靠性提供理論依據(jù)和實踐指導。
2025/09/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享
如何實施MTBF≥100000小時的可靠性壽命指標驗證呢，可靠性試驗是驗證產(chǎn)品平均無故障工作時間的有效驗證，是其產(chǎn)品在規(guī)定條件下、規(guī)定的試驗內(nèi)，完成規(guī)定功能的能力。
2023/07/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享
產(chǎn)品可靠性不是檢驗出來的，而是設計進去、制造出來、管理出來的。全壽命周期可靠性工程是一個需要前瞻性規(guī)劃、跨部門緊密協(xié)作、并持續(xù)投入資源的系統(tǒng)性工程。
2025/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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